台式薄膜测厚仪 薄膜自动厚度测量仪,CHY-U台式薄膜测厚仪标准量块标定,方便用户快速标定设备，配备自动进样器，可一键实现全自动多点测量，误差小；仪器在提供测试结果图形统计分析的同时，配备微型打印机，可自动保存并且打印多达100组测试结果。除此之外，仪器还配备RS232接口，方便实验数据和结果的分享。

台式薄膜测厚仪薄膜自动厚度测量仪

规格：CHY-U

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在工业中，薄膜是一种使用非常频繁的材料，而且广泛应用于工业中的各个方面，如产品包装、电子生产等。在薄膜中，厚度是否均匀是衡量其质量的重要标准，因为如果薄膜厚度不均，不但会影响到薄膜的拉伸强度、阻隔性等，还会影响到薄膜的后续加工。

对于微电子薄膜、光学薄膜等，薄膜的厚度还直接关系到薄膜材料能否正常工作；另外，大规模集成电路中的薄膜，如果厚度发生变化，会直接影响到电路的性能。除此之外，薄膜材料的力学性能，透光性能，磁性能，热导率，表面结构等都与厚度密不可分。为此，需要对薄膜的厚度测量。

台式薄膜测厚仪薄膜自动厚度测量仪

CHY-U台式薄膜测厚仪是济南三泉中石实验仪器根据GB/T6672《塑料薄膜和薄片厚度测定-机械测量法》、ISO4593《塑料薄膜和薄板机械扫描测定厚度》等标准研发生产的厚度测量仪器，广泛适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度准确测量。

CHY-U台式薄膜测厚仪标准量块标定,方便用户快速标定设备，配备自动进样器，可一键实现全自动多点测量，误差小；仪器在提供测试结果图形统计分析的同时，配备微型打印机，可自动保存并且打印多达100组测试结果。除此之外，仪器还配备RS232接口，方便实验数据和结果的分享。

技术参数

测量范围：0-2mm （其他量程可定制）

分辨率：0.1um

测量速度：10次/min（可调）

测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）

接触面积：50mm²（薄膜），200mm²（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种

进样步矩：0 ～ 1300 mm(可调)

进样速度：0 ～ 120 mm/s(可调)

机器尺寸：450mm×340mm×390mm (长宽高)

重量：23Kg

工作温度：15℃-50℃

相对湿度：≤80%,无凝露

试验环境：无震动，无电磁干扰

工作电源：220V 50Hz

注：以上价格仅供参考，如需了解详情或详细价格，敬请致电济南三泉中石。